18. Okt 2007, 20:55

Scan Test meint bei (modernen) digitalen Schaltungen ein spezielles Verfahren zum Testen auf strukturelle (d.h. fertigungsbedingte) Schäden. Es beruht auf einer Hintereinanderschaltung sämtlicher im Entwurf verwendeter Flip-Flops mit einer Modus-Ansteuerung, sodass zwischen einer seriellen Betriebsart in dieser Hintereinanderschaltung (Shift-Betrieb) oder der Normalbetriebart der Schaltung hin- und hergeschaltet werden kann. Das erste und letzte Flip-Flop sind mit einem speziellen Ein- bzw. Ausgang in die Schaltung verbunden, sodass bestimmte Testmuster in die Schaltung hineingeschoben und ausgelesen werden können. Bei entsprechender Umschaltstrategie zwischen Shift- und Normalbetrieb und gegebenem Eingangsbitmuster ergibt sich dann ein bestimmtes Ausgangsbitmuster, bei dessen Nichtauftreten dann ein struktureller Fehler angenommen werden muss, der zum Aussortieren der Schaltung führt. Sämtliche Elemente dieses Testverfahrens, das Erzeugen der Hintereinanderschaltung (scan chain) und die Generierung von Eingangsmustern zum Einspeisen und Ausgangsmuster für den Vergleich werden von Software-Werkzeugen übernommen: die scan insertion, meist im Rahmen der Synthese und ATPG: automatic test pattern generation.

[Bearbeiten] siehe auch

• Boundary Scan Test

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