Das will Ian Cutress auf der DAC tragen.
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Wenn man über Prozesse redet geht es immer um die Fehlerdichte D0 die AFAIU von der Fab per optischer Inpspektion ermittelt wird. Das sind Fehler die zum Versagen einer Schaltung führen, wie zwei Leiter werden kurzgeschlossen oder ein Leiter ist unterbrochen.
Wenn der Prozess stabil ist und keine systematischen Fehler mehr hat, dann greifen die statistischen Methoden und dann kann man aus der Fehlerrate und der Fläche des Dies den Yield berechnen.
Die Angabe eines Yields ohne zu sagen wie groß der Die ist, sagt nichts über Fehlerdichte des Prozesses aus.
Nuklon schrieb:
60% heißt immer noch das 40% der Produktion direkt in den Mülleimer gehen. Das ist hart.
Die Yieldangaben die von den Fabs kommen und sich auf die D0 Fehler beziehen, sagen nicht aus, wie viele Dies letztendlich genützt werden können.
Auf der einen Seite wirken sich sie meisten D0 Fehler nur auf einen Teilbereich des Chips aus. Meistens kann der Chips noch verwendet werden kann, wenn man diesen Teilbereich z. B einen von 8 CPU-Kernen deaktiviert.
Auf der anderen Seite gibt es noch sehr viele andere Fehlertypen, die sich auf die elektrischen Eigenschaften des Dies auswirken. Auch hier kann man durch Deaktivieren von Teilbereichen meist vermeiden den Chip wegschmeißen zu müssen. Aber oft kann man die Dies nur zu einem niedrigeren Preis absetzen.
phanter schrieb:
Yield bezieht sich nicht auf irgendwie nutzbare chips sondern auf fehlerfreie chips. 60% nach spec zu verkaufen und dann den Rest als cut down kann durchaus praktikabel sein.
Das ist richtig, aber wie gesagt der Yield bezieht sich nur auf die D0-Fehler und die anderen Fehler fordern eben auch ihren Tribut.
Deswegen bedeutet ein Yield von 40 % noch lange nicht, dass 40 % der Chips als Top Charge verwendet werden können. Und es lassen sich auch nicht alle der 60 % Chips mit D0 Fehler retten.
bensen schrieb:
Das ist nicht richtig. Es kommt natürlich auf die Spezifikation des Chips an, wie hoch die Yield ist.
Was ist denn ein fehlerfreier Chip? Es sind ja nicht nur komplett defekte Transistoren interessant, sondern auch die Performance.
Ob ich den Chip dann mit 1 GHz oder 2 GHz betreibe macht dann schon einen Unterschied.
Und dieser Aspekt wird eben sehr gerne ignoriert.
Wenn ein Prozess schlecht ist und eine hohe Fehlerdichte D0 hat, dann ist es sehr wahrscheinlich, dass eben auch die anderen Fehlertypen sehr häufig auftreten.