[Sammelthread] HDD-Probleme, SMART-Analysen
- Ersteller Heen
- Erstellt am
Das ist ja schon ein wenig her, etwa öfter sollte man da schon nachsehen, gerade wenn die Platten mobil genutzt wird und daher auch Stößen ausgesetzt werden kann.jolle-pe schrieb:
Das ist grob fahrlässig, so wichtig können die Daten doch gar nicht sein, wenn sie nur auf einer alten Notebookplatte in einem USB Gehäuse stehen und sonst nirgends.jolle-pe schrieb:
Das Tiefkühlen hat wohl bei manchen schon Erfolg gebracht, aber man kann nur recht wenige Daten retten, die Platte erwärmt sich ja wieder und man versaut damit dem Profi die Chance auf Datenrettung.jolle-pe schrieb:
Wenn die Profidatenrettung sowieso wegen der Kosten ausscheidet, dann kannst Du es versuchen, aber die Platte gut gegen Feuchtigkeit schützen. Wenn Du aber bei Misserfolg im zweiten Schritt zum Profi gehen willst, lass jeden Selbstversuch bleiben!
Da die Daten gesichert sind, kann man die weiter verwenden. Die hat auch jede Menge G-Sensor Fehler, also zu viele Erschütterungen erlebt und dann stören mich die "Reported unkorrectable Errors", was immer genau die Ursache dafür sein sollte, es waren so viele, dass der Aktuelle Wert schon auf 1 gesunken ist. Der Controller nimmt diese also fast schon als kritisch an. Schwer zu sagen, wie lange die noch halten dürfte.arktom schrieb:
427 hat der G-Sensor angesprochen, also Erschütterungen jenseits des Erlaubten registriert, das haben die werten Kollegen hier leider komplett übersehen. Dafür sind dann 184 wiederzugewiesene Sektoren (weil Advanced Format) durchaus kein Wunder. Du musst schonender mit dem Teil umgehen oder Dir eine SSD kaufen, denen machen die Stöße nichts.Kaddy123 schrieb:
Habe hier gerade eine defekte Hitachi 2,5er 500GB HDD.
War eingebaut in einem ASUS Notebook. GSense sieht eig. gut aus, also wurde damit wohl nicht
Fußball gespielt
Gekauft am 18.11.2012 - nach ca 1. Jahr haben die Probleme angefangen.
Nun ist der Austausch dran. Kleine Nebenstory, HGST akzeptiert die SN nicht, sagt
das ist außerhalb von DE gekauft, obwohl sie von digitalo kommt und soll mich an den Verkäufer wenden.
Digitalo sagt ich soll sie einschicken, bin mal gespannt ob ich Ersatz oder Geld zurück bekomme ohne Probleme.
smartctl:
Was bisher für mich neu war, Hitachi DFT sagt im 1. Bild dass er die Fehler korrigieren kann?!
Im 2. Bild danach wenn man abbricht kommt aber dann defective Device.
Kriegt man die wirklich repariert und kann Sie weiter benutzen ohne Probleme? Wohl eher nicht
wenn ich mir die Werte so angucke?
War eingebaut in einem ASUS Notebook. GSense sieht eig. gut aus, also wurde damit wohl nicht
Fußball gespielt
Gekauft am 18.11.2012 - nach ca 1. Jahr haben die Probleme angefangen.
Nun ist der Austausch dran. Kleine Nebenstory, HGST akzeptiert die SN nicht, sagt
das ist außerhalb von DE gekauft, obwohl sie von digitalo kommt und soll mich an den Verkäufer wenden.
Digitalo sagt ich soll sie einschicken, bin mal gespannt ob ich Ersatz oder Geld zurück bekomme ohne Probleme.
smartctl:
smartctl 5.41 2011-06-09 r3365 [x86_64-linux-3.2.0-60-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-11 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: Hitachi HTS547550A9E384
Serial Number: XXX
LU WWN Device Id: 5 000cca xxx
Firmware Version: JE3OA60A
User Capacity: 500,107,862,016 bytes [500 GB]
Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 8
ATA Standard is: ATA-8-ACS revision 6
Local Time is: Thu Apr 24 20:56:13 2014 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 45) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 156) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x000b 100 100 062 Pre-fail Always - 0
2 Throughput_Performance 0x0005 100 100 040 Pre-fail Offline - 0
3 Spin_Up_Time 0x0007 184 184 033 Pre-fail Always - 2
4 Start_Stop_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 1474
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 005 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x000b 100 100 067 Pre-fail Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0005 100 100 040 Pre-fail Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0012 094 094 000 Old_age Always - 2846
10 Spin_Retry_Count 0x0013 100 100 060 Pre-fail Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1157
191 G-Sense_Error_Rate 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 69
193 Load_Cycle_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 13518
194 Temperature_Celsius 0x0002 206 206 000 Old_age Always - 29 (Min/Max 17/55)
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4
197 Current_Pending_Sector 0x0022 088 088 000 Old_age Always - 496
198 Offline_Uncorrectable 0x0008 100 100 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x000a 200 200 000 Old_age Always - 0
223 Load_Retry_Count 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0
SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 425 (device log contains only the most recent five errors)
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 425 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 8a 78 06 00 Error: UNC at LBA = 0x0006788a = 424074
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 8a 78 06 e0 00 00:06:11.673 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 89 78 06 00 04 00:06:11.657 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 89 78 06 e0 00 00:06:08.380 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 00 04 00:06:08.365 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
Error 424 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 89 78 06 00 Error: UNC at LBA = 0x00067889 = 424073
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 89 78 06 e0 00 00:06:08.380 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 00 04 00:06:08.365 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 87 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 86 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
Error 423 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 88 78 06 00 Error: UNC at LBA = 0x00067888 = 424072
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 88 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 87 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 86 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 85 78 06 e0 00 00:06:05.094 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 84 78 06 e0 00 00:06:05.094 READ SECTOR(S) EXT
Error 422 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 c7 02 06 00 Error: UNC at LBA = 0x000602c7 = 393927
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 c7 02 06 e0 00 00:05:48.154 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c6 02 06 00 04 00:05:48.138 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c6 02 06 e0 00 00:05:44.862 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 00 04 00:05:44.846 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 e0 00 00:05:41.570 READ SECTOR(S) EXT
Error 421 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 c6 02 06 00 Error: UNC at LBA = 0x000602c6 = 393926
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 c6 02 06 e0 00 00:05:44.862 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 00 04 00:05:44.846 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 e0 00 00:05:41.570 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c4 02 06 00 04 00:05:41.553 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c4 02 06 e0 00 00:05:38.277 READ SECTOR(S) EXT
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed: read failure 50% 2808 393920
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Copyright (C) 2002-11 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: Hitachi HTS547550A9E384
Serial Number: XXX
LU WWN Device Id: 5 000cca xxx
Firmware Version: JE3OA60A
User Capacity: 500,107,862,016 bytes [500 GB]
Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 8
ATA Standard is: ATA-8-ACS revision 6
Local Time is: Thu Apr 24 20:56:13 2014 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 45) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 156) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x000b 100 100 062 Pre-fail Always - 0
2 Throughput_Performance 0x0005 100 100 040 Pre-fail Offline - 0
3 Spin_Up_Time 0x0007 184 184 033 Pre-fail Always - 2
4 Start_Stop_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 1474
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 005 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x000b 100 100 067 Pre-fail Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0005 100 100 040 Pre-fail Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0012 094 094 000 Old_age Always - 2846
10 Spin_Retry_Count 0x0013 100 100 060 Pre-fail Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1157
191 G-Sense_Error_Rate 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 69
193 Load_Cycle_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 13518
194 Temperature_Celsius 0x0002 206 206 000 Old_age Always - 29 (Min/Max 17/55)
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4
197 Current_Pending_Sector 0x0022 088 088 000 Old_age Always - 496
198 Offline_Uncorrectable 0x0008 100 100 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x000a 200 200 000 Old_age Always - 0
223 Load_Retry_Count 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0
SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 425 (device log contains only the most recent five errors)
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 425 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 8a 78 06 00 Error: UNC at LBA = 0x0006788a = 424074
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 8a 78 06 e0 00 00:06:11.673 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 89 78 06 00 04 00:06:11.657 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 89 78 06 e0 00 00:06:08.380 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 00 04 00:06:08.365 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
Error 424 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 89 78 06 00 Error: UNC at LBA = 0x00067889 = 424073
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 89 78 06 e0 00 00:06:08.380 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 00 04 00:06:08.365 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 88 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 87 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 86 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
Error 423 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 88 78 06 00 Error: UNC at LBA = 0x00067888 = 424072
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 88 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 87 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 86 78 06 e0 00 00:06:05.095 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 85 78 06 e0 00 00:06:05.094 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 84 78 06 e0 00 00:06:05.094 READ SECTOR(S) EXT
Error 422 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 c7 02 06 00 Error: UNC at LBA = 0x000602c7 = 393927
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 c7 02 06 e0 00 00:05:48.154 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c6 02 06 00 04 00:05:48.138 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c6 02 06 e0 00 00:05:44.862 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 00 04 00:05:44.846 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 e0 00 00:05:41.570 READ SECTOR(S) EXT
Error 421 occurred at disk power-on lifetime: 2845 hours (118 days + 13 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 01 c6 02 06 00 Error: UNC at LBA = 0x000602c6 = 393926
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
24 00 01 c6 02 06 e0 00 00:05:44.862 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 00 04 00:05:44.846 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c5 02 06 e0 00 00:05:41.570 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c4 02 06 00 04 00:05:41.553 READ SECTOR(S) EXT
24 00 01 c4 02 06 e0 00 00:05:38.277 READ SECTOR(S) EXT
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed: read failure 50% 2808 393920
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Was bisher für mich neu war, Hitachi DFT sagt im 1. Bild dass er die Fehler korrigieren kann?!
Im 2. Bild danach wenn man abbricht kommt aber dann defective Device.
Kriegt man die wirklich repariert und kann Sie weiter benutzen ohne Probleme? Wohl eher nicht
wenn ich mir die Werte so angucke?
4 Wiederzuweisungsereignisse aber angeblich keinen wiederzugewiesenen Sektor, S.M.A.R.T. lügen eben auch mal. 496 schwebende Sektoren sind aber jedenfalls eine Menge und ohne Probleme weiter nutzen dürfte damit schwer werden, können doch die Daten von schwebenden Sektoren nicht mehr gelesen werden und i.d.R. werden diese Sektoren dann geprüft, wenn sie neu beschrieben werden. Wenn noch Garantie drauf ist, sollte es mit dem Fehlercode ja eigentlich leicht sein den Garantieanspruch zu realisieren, zumal es keine G-Sense Fehler gibt, also eine Misshandlung der Platte nicht unterstellt werden kann.
Wenn keine Garantie mehr drauf ist, dann würde ich mal sehen wie es aussieht, wenn Du die Platte einmal komplett überschreibst, also z.B. ein langsames Formatieren oder mit DISKPART und CLEAN, wobei natürlich alle Daten verloren gehen, aber eine Datensicherung hast Du ja hoffentlich. Wenn nicht, wäre es höchste Zeit, denn vermutlich kann die eine oder andere Datei auch schon nicht mehr gelesen werden.
Wenn keine Garantie mehr drauf ist, dann würde ich mal sehen wie es aussieht, wenn Du die Platte einmal komplett überschreibst, also z.B. ein langsames Formatieren oder mit DISKPART und CLEAN, wobei natürlich alle Daten verloren gehen, aber eine Datensicherung hast Du ja hoffentlich. Wenn nicht, wäre es höchste Zeit, denn vermutlich kann die eine oder andere Datei auch schon nicht mehr gelesen werden.
Ja, Garantie sollte Sie noch haben, da 2 Jahre noch nicht um sind und die Platte August 2012 produziert wurde.
Datensicherung ist vorhanden aus 2012 als die Vorgänger Platte verstorben ist. Manche Leute sind halt sehr schwer für ein Backup zu begeistern
Ist nicht meine Platte/Notebook sondern von einer Verwandten.
Konnte aber alle Daten kopieren, weil auf den fehlerhaften Sektoren nur DLLs und Treiber von Windows lagen. Deswegen ging Windows auch vor Weihnachten schon nicht mehr, während das Linux bis zuletzt noch problemlos funktioniert hat als 2. OS.
Jetzt kommt erst mal eine Sandisk UP SSD rein, evtl. bleibt die drin und auf die ausgetauschte HDD kommen dann die Backups drauf oder so.
Danke für deine Einschätzung!
Datensicherung ist vorhanden aus 2012 als die Vorgänger Platte verstorben ist. Manche Leute sind halt sehr schwer für ein Backup zu begeistern
Ist nicht meine Platte/Notebook sondern von einer Verwandten.
Konnte aber alle Daten kopieren, weil auf den fehlerhaften Sektoren nur DLLs und Treiber von Windows lagen. Deswegen ging Windows auch vor Weihnachten schon nicht mehr, während das Linux bis zuletzt noch problemlos funktioniert hat als 2. OS.
Jetzt kommt erst mal eine Sandisk UP SSD rein, evtl. bleibt die drin und auf die ausgetauschte HDD kommen dann die Backups drauf oder so.
Danke für deine Einschätzung!
Wenn die Platte nicht original mit dem Notebook geliefert wurde, musst Du das mit der Garantie noch mit HGST klären, denn das Tool was den Fehlercode ausgegeben hat, ist ja wohl von ASUS und wäre nur für deren original verbaute HDDs relevant. Bei so vielen defekten Sektoren und ohne jeden G-Sende Fehler sollte es eigentlich machbar sein, aber man weiß das nie. Wäre die so streng wie die TÜV Prüfer, würde kaum einer mit seinem alten Auto Angst haben müssen durchzufallen 
Weedlord
Fleet Admiral
- Registriert
- Aug. 2013
- Beiträge
- 16.306
Hab meine HDD jetzt seit 4 MOnaten im Betrieb, sind die Werte soweit in Ordnung?
verwende die als SPiele Festplatte, außerdem landen da die meisten Programme die ich manchmal verwende und nicht durchgehend laufen, auf meiner SSD sind nur Treiber und Temperaturüberwachungsprogramme, wie z.b. Sapphire Trixx oder mein Anti Viren Programm.
Meine SSD:
Bin mit der HDD übrigens super zufrieden, im Vergleich zu der 2 TB HDD von meinem Kumpel ist diese wesehntlich schneller, vorallem wenn ich da windows und alle Programme drauf installier, könnt mir fast vorstellen meine SSD zu verkaufen wenn ich da was für bekommen könnte und alles auf die HDD zu klatschen.
verwende die als SPiele Festplatte, außerdem landen da die meisten Programme die ich manchmal verwende und nicht durchgehend laufen, auf meiner SSD sind nur Treiber und Temperaturüberwachungsprogramme, wie z.b. Sapphire Trixx oder mein Anti Viren Programm.
Meine SSD:
Bin mit der HDD übrigens super zufrieden, im Vergleich zu der 2 TB HDD von meinem Kumpel ist diese wesehntlich schneller, vorallem wenn ich da windows und alle Programme drauf installier, könnt mir fast vorstellen meine SSD zu verkaufen wenn ich da was für bekommen könnte und alles auf die HDD zu klatschen.
Eine Bitte: Postet nur den Screenshot von CrystalDiskInfo, nicht den ganzen Desktop, der nutzt hier gar nichts und es macht nur mehr Arbeit bis man die Werte erkennen kann. Die Platten sind in Ordnung nur bei der Seagate fallen mir komische Werte bei den Hardware ECC Wiederherstellung auf. Der Rohwert entspricht genau dem von 01, aber der Aktuelle und vor allem der schlechteste Wert sind ungewöhnlich niedrig, obwohl es keine Lesefehler gab, denn die ersten 4 Stellen, also die wo die Anzahl der Fehler steht, sind ja noch 0000.
Das sagt eigentlich aus, dass die Sektoren mit Fehlern gelesen wurden, diese aber von der Fehlerkorrektur (ECC) behoben werden konnten. Das kann passieren, dafür ist die ECC ja da, aber das die Anzahl mit denen der Lesevorgänge übereinstimmen soll, kann ich nicht glauben. Das dürfte eine Fehlanzeige sein, denn auch der Schlechteste Wert passt nicht so wirklich zu dem Rohwert.
Die Bilder brauchst Du nicht schneiden, drücke einfach Alt+Print, dann bekommst Du automatisch einen Screenshot nur vom aktiven Fenster.
Die Bilder brauchst Du nicht schneiden, drücke einfach Alt+Print, dann bekommst Du automatisch einen Screenshot nur vom aktiven Fenster.
Inzersdorfer
Admiral
- Registriert
- Juli 2010
- Beiträge
- 7.232
Zitat: "S.M.A.R.T. lügen eben auch mal." und "Das dürfte eine Fehlanzeige sein" sind schlicht Unsinn.
Inzersdorfer, dann kläre mich doch bitte auf, die es dazu kommt, dass es zwar Wiederzuweisungsereignisse gibt, aber keine Wiederzugewiesenen Sektoren?
Wieso die ECC-HW Korrektur den gleichen Rohwert wie die Lesefehler haben, aber einen anderen Aktuellen und vor allem einen so tiefen "Schlechtesten Wert"? Bei den Lesefehlern geben die ersten 4 Stellen die Anzahl der Fehler an, die anderen 8 die der Vorgänge, der aktueller Wert ergibt sich aus dem Verhältnis der beiden. Wäre es bei den ECC genauso, dürfte der Aktuelle und auch der Schlechteste Wert nicht anders sein.
In diese Beitrag behauptest Du, der Rohwert zählt nur die Anzahl der HW ECC Wiederherstellungen, was bedeuten würde, dass genau für jeden Lesevorgang der erfolgt ist genau eine ECC Korrektur gab. Das ist doch wohl kaum anzunehmen, oder? Also kläre uns bitte, wieso diese Annahme stimmen soll, dass genau so viele ECC Korrekturen wie Lesevorgänge erfolgten bzw. wie man Wiederzuweisungen ohne Wiederzugewiesene Sektoren haben kann, bevor Du mir hier Unsinn unterstellst.
Die S.M.A.R.T. Werte kommen vom Controller, die Namen der Attribute aus dem Programm, da kennen längst nicht alle Programme und -versionen kennen die korrekten Namen aller Attribute aller Laufwerke und ich auch nicht. Aber was für Rohwerte und Aktuelle, Schlechteste und Grenzwerte erscheinen, hängt vom Programmierer der FW ab und die manchen auch Fehler.
Übrigens haben wir hier und hier je eine WD bei der es vorkommt, dass auch mal die Schlechtesten Werte über dem Aktuellen Wert liegen, was eigentlich auch nicht sein dürfte, soll doch der Schlechteste Wert anzeigen, wie tief der Aktuelle Wert maximal gesunken war. Soviel zur Perfektion bei den S.M.A.R.T. Werten.
Wieso die ECC-HW Korrektur den gleichen Rohwert wie die Lesefehler haben, aber einen anderen Aktuellen und vor allem einen so tiefen "Schlechtesten Wert"? Bei den Lesefehlern geben die ersten 4 Stellen die Anzahl der Fehler an, die anderen 8 die der Vorgänge, der aktueller Wert ergibt sich aus dem Verhältnis der beiden. Wäre es bei den ECC genauso, dürfte der Aktuelle und auch der Schlechteste Wert nicht anders sein.
In diese Beitrag behauptest Du, der Rohwert zählt nur die Anzahl der HW ECC Wiederherstellungen, was bedeuten würde, dass genau für jeden Lesevorgang der erfolgt ist genau eine ECC Korrektur gab. Das ist doch wohl kaum anzunehmen, oder? Also kläre uns bitte, wieso diese Annahme stimmen soll, dass genau so viele ECC Korrekturen wie Lesevorgänge erfolgten bzw. wie man Wiederzuweisungen ohne Wiederzugewiesene Sektoren haben kann, bevor Du mir hier Unsinn unterstellst.
Die S.M.A.R.T. Werte kommen vom Controller, die Namen der Attribute aus dem Programm, da kennen längst nicht alle Programme und -versionen kennen die korrekten Namen aller Attribute aller Laufwerke und ich auch nicht. Aber was für Rohwerte und Aktuelle, Schlechteste und Grenzwerte erscheinen, hängt vom Programmierer der FW ab und die manchen auch Fehler.
Ergänzung ()
Übrigens haben wir hier und hier je eine WD bei der es vorkommt, dass auch mal die Schlechtesten Werte über dem Aktuellen Wert liegen, was eigentlich auch nicht sein dürfte, soll doch der Schlechteste Wert anzeigen, wie tief der Aktuelle Wert maximal gesunken war. Soviel zur Perfektion bei den S.M.A.R.T. Werten.
RebelAngel
Lieutenant
- Registriert
- Feb. 2006
- Beiträge
- 674
Hab mittlerweile bei meiner Seagate Laptop 8 high fly writes und 6 ultra DMA CRC errors. Hängen die irgendwie zusammen...? Amazon tauscht mir die Platte jedenfalls, ich hoffe, dass dann Ruhe ist :-(
- Registriert
- Sep. 2006
- Beiträge
- 9.822
So ein Mist... Festplatte ist erst seit ein paar Wochen drin und war neu. Muss ich mir Sorgen machen?
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