Endlich mal einer, der das Prinzip verstanden hat.kisser schrieb:Das ist ganz einfach.
In den Chips sitzt ein F/V converter (Frequenz-Spannungs-Konverter), dessen Ausgangspanung genutzt wird, um Diodenstrecken durchzubrennen. Man kann auf diese Weise sogar nachweisen, um wieviel uebertaktet wurde, weil die Diodenstrecken fuer unterschiedliche Spannungen dimensioniert sind, also bei unterschiedlich hoher Uebertaktung durchbrennen.
Es reichen dafür theoretisch schon kleine LM29x7 oder ähnlich um mit einer aus der Frequenz konvertieren analogen Spannung kleine Dioden oder andere Schaltkreise durchbrennen zu lassen, um festzustellen, ob die Nenn-Frequenz ab Werk überschritten wurde oder nicht.
Muss noch nichtmal im Chip intern sein.
Leute, Halbleiterhersteller haben ganz andere Möglichkeiten Hardware zu überprüfen als die meisten vielleicht von euch kennen (Multimeter...)
mfg Simon